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自动化晶圆测试和计量设备


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FSM128LC2C
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订货编码:PT200004130003
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产品应用:

晶圆测试:用于半导体晶圆的动态和静态电容测试、温度监测、对准分析等。

缺陷检测:诊断晶圆上的缺陷,如屈服抢断和模具板故障。

计量分析:测量晶圆表面平面度、纹理和其他关键计量特性。

晶圆清洗:支持晶圆清洗过程,确保测试前的表面清洁。

自动化操作:通过自动定心和测绘功能,快速装卸晶片并完成测试。

产品特性:

高效测试能力:可同时测试多达16个晶片,显著提高测试效率。

多种测试技术:支持动态电容测试、静态电容测试、原位光谱学、剖析、迭加评估等多种先进技术。

高精度计量:配备高分辨率彩色成像阵列和散射光成像阵列,结合鲁棒算法,精确测量晶圆表面平面度、纹理等特性。

自动化操作:自动晶片定心和测绘机,简化晶片装卸和对准流程。

强大的软件支持:基于Windows的用户界面,支持多模具扫描、温度监测、电容测量等功能。

缺陷诊断能力:可诊断屈服抢断缺陷,检测和测量模具板故障及寄生电容。

高可靠性:确保测试和计量的准确性、重复性和可靠性。

产品规格:

●FSM128LC2C

产品展示图:

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