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硅片刻蚀的作用是什么:半导体制造中的核心工艺解析

Global PNG2025-12-04 02:00:51
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硅片刻蚀是半导体制造中的关键工艺,通过物理或化学方法精准去除硅片表面材料,形成纳米级电路结构。本文从作用机制、技术分类、应用场景及未来趋势四方面展开,解析硅片刻蚀如何实现芯片功能化,并支撑5nm、3nm等先进制程的突破。一、硅片刻蚀的核心作用:从“平面”到“立体”的转型1.1 定义与工艺本质硅片刻蚀(Silicon Etching)是通过等离子体、化学溶液或激光等手段,选择性去除硅片表面或内...

硅片刻蚀是半导体制造中的关键工艺,通过物理或化学方法精准去除硅片表面材料,形成纳米级电路结构。本文从作用机制、技术分类、应用场景及未来趋势四方面展开,解析硅片刻蚀如何实现芯片功能化,并支撑5nm、3nm等先进制程的突破。


一、硅片刻蚀的核心作用:从“平面”到“立体”的转型


1.1 定义与工艺本质


硅片刻蚀(Silicon Etching)是通过等离子体、化学溶液或激光等手段,选择性去除硅片表面或内部的硅材料,形成沟槽(Trench)、孔洞(Via)或凸起结构(Fin),最终实现晶体管、互联线等微纳器件的构建。


1.2 在半导体制造中的定位


前后道工艺衔接:位于光刻(图形转移)与沉积(薄膜形成)之后,是“图形定义-材料去除-结构成型”流程的关键环节;


制程节点突破的核心:7nm以下制程中,刻蚀精度直接影响晶体管密度与性能(如FinFET鳍片高度控制)。


二、技术分类:干法刻蚀与湿法刻蚀的对比


2.1 干法刻蚀(等离子体刻蚀为主)


原理:利用射频电源激发气体(如CF₄、SF₆)产生等离子体,通过物理轰击(溅射)与化学腐蚀(氟基自由基)协同作用去除硅;


优势:各向异性(侧壁垂直度高)、分辨率高(可实现<10nm线宽);


应用场景:先进逻辑芯片(如5nm FinFET)、3D NAND闪存(176层以上)的关键制程。


2.2 湿法刻蚀(化学溶液腐蚀)


原理:通过碱性溶液(如KOH)或酸性溶液(如HNO₃)与硅发生化学反应,实现各向同性腐蚀;


优势:成本低、设备简单、适用于大面积均匀腐蚀;


应用场景:MEMS传感器(如加速度计)、太阳能电池(绒面结构制备)的初步加工。


三、硅片刻蚀的具体作用:从结构到功能的实现


3.1 基础电路构建


沟槽隔离(STI):通过干法刻蚀形成浅沟槽,填充氧化硅后实现晶体管间电隔离(中芯国际14nm工艺数据:沟槽深度精度±5nm);


栅极结构成型:刻蚀多晶硅形成晶体管栅极,控制栅长精度直接影响开关速度(台积电5nm工艺栅长仅22nm)。


3.2 三维器件制造


FinFET鳍片刻蚀:通过侧壁保护与各向异性刻蚀,形成垂直鳍片结构,提升载流子迁移率(三星3nm GAAFET工艺鳍片高度达60nm);


3D NAND通道孔刻蚀:深孔刻蚀技术(DRIE)实现100:1深宽比孔洞,支撑176层以上堆叠(长江存储3D NAND案例)。


3.3 互联与封装


铜互联通孔刻蚀:通过双大马士革工艺,刻蚀硅氧化层形成通孔,填充铜后实现芯片内部互联(英特尔10nm工艺通孔直径仅20nm);


TSV硅通孔刻蚀:深孔刻蚀结合铜填充,实现芯片垂直互联(三星2.5D封装通孔深度达50μm)。


四、技术挑战与未来趋势


4.1 当前技术瓶颈


深宽比限制:传统DRIE工艺在深宽比>50:1时易出现侧壁弯曲(如128层3D NAND通道孔);


材料选择性:硅与掩膜层(如光刻胶、硬掩膜)的刻蚀选择比需>100:1,否则易损伤下层结构;


等离子体损伤:高能离子轰击可能导致硅表面晶格损伤,影响器件电学性能。


4.2 未来技术方向


原子层刻蚀(ALE):通过循环反应(吸附-反应-脱附)实现单原子层去除,精度达0.1nm(应用材料公司已推出ALE设备);


极紫外光刻(EUV)协同:EUV光刻与高选择性刻蚀结合,支撑2nm及以下制程(ASML与泛林研究联合开发方案);


低温刻蚀技术:在-100℃低温下抑制化学反应,提升对敏感材料(如Ge、III-V族)的刻蚀选择性(IMEC研究数据:选择比提升3倍)。


五、行业应用与市场数据


5.1 典型应用案例


逻辑芯片:台积电5nm工艺中,干法刻蚀步骤占比超30%,单片晶圆刻蚀层数达15层;


存储芯片:三星V-NAND闪存中,通道孔刻蚀深度精度需控制在±2%,否则可能导致位错误;


功率器件:SiC碳化硅器件刻蚀需专用设备(如SPTS Technologies的SiC等离子体刻蚀机),侧壁粗糙度<1nm。


5.2 市场规模与趋势


设备市场:2025年全球半导体刻蚀设备市场规模预计达220亿美元,干法刻蚀占比超80%;


技术迭代:原子层刻蚀(ALE)设备出货量年增速达120%,预计2026年占据高端市场30%份额。


六、结论与展望


硅片刻蚀作为半导体制造的核心工艺,通过干法与湿法技术的协同,实现了从二维平面到三维立体的器件结构转型。尽管面临深宽比限制、材料选择性等挑战,但原子层刻蚀、EUV协同等技术的突破,将持续推动刻蚀精度向亚纳米级迈进。


未来,随着先进制程(如2nm GAAFET)与三维集成(如Chiplet)的普及,硅片刻蚀的技术价值与市场地位将进一步提升。


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