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半导体设备检验与测量设备智能制造与远程监控测量仪器
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核心优势

无线远程监控
智能制造集成
实时响应与告警
低延迟传输(<100ms)
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智能制造与远程监控测量仪器


生产状态:现货
发货日:15 天
售卖单位:   
   起订量:1 
适用于智能制造与远程监控,实时传输晶圆温度数据至 MES/SCADA系统
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规格
ASTM20-02WL(无线Wi-Fi型)
库存:1000
订货编码:PT200004340006
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产品概述:

ASTM20-02WL 是一款符合 ASTM D20 塑料委员会相关标准的高精度、专业化材料热力学性能测试仪器。



产品应用:

半导体领域应用

●智能制造与远程监控,实时传输晶圆温度数据至 MES/SCADA系统

●实现智能工厂(Smart Fab)的数字化管理。

●无尘室(Class 100-1000)内的无线监测,避免布线污染风险。

高速工艺控制

●RTP(快速热处理) 设备的瞬时温度反馈,确保毫秒级工艺稳定性。

●化合物半导体(如GaN、SiC)外延生长时的温度同步记录。

多设备协同监测

●同时监控多个机台(如Cluster Tool)的温度状态,优化生产节拍。

●与机械臂联动,追踪晶圆搬运过程中的温度变化。

其他工业应用

●食品/医药行业洁净车间的无菌环境温度监控。

●汽车电子(如功率模块)的老化测试。



产品特性:

无线远程监控:Wi-Fi/LAN数据传输,实时将温度数据发送至笔记本或中控系统,实现 无尘室远程监控,避免传统布线对半导体设备的干扰,提升产线整洁度与安全性。

●智能制造集成:支持 16通道/模块(可扩展),适配半导体自动化设备(如机械臂搬运晶圆时的温度追踪),数据可通过 AST N1软件 接入MES/SCADA系统,助力工业4.0升级。

●实时响应与告警:温度超差时自动触发报警,适用于 RTP(快速热处理) 等高速工艺的即时调控,历史数据云端存储,便于半导体良率分析与工艺追溯。

●半导体特殊场景适配

●无线设计避免接触污染,适合 高洁净度区域(如光刻区)。

●低延迟传输(<100ms),满足实时控制需求(如Epitaxial生长监控)。












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