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半导体备件其他辅助材料真空腔体内部多点温度采集热电偶穿通接头
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真空腔体内部多点温度采集热电偶穿通接头

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产品应用:

真空腔体内部多点温度采集

半导体设备测试平台

高精度热分析系统

环境模拟实验箱

热处理设备温度反馈装置

产品特性:

K型热电偶,适用于多种工业温度测量,响应灵敏

大尺寸护套型结构,支持可靠插入式安装,便于替换与维护

4通道设计,适配多点同步测量需求,提高系统集成效率

高密封性设计,泄漏率 < 1×10⁻⁹ atm cc/sec He,满足高真空或高压系统应用

温度范围宽泛,覆盖大多数中高温工业测试要求(-100°C ~ 450°C)

产品规格:

规格尺寸:φ3.2 英寸直径 × 50 英寸长度,4通道(4CH),SHX-K-M 接口

温度范围:-100°C 至 450°C

泄漏率:< 1×10⁻⁹ atm cc/sec He(高气密真空等级)

产品展示图:

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