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半导体设备其他辅助设备薄膜厚度/台阶高度测量0.1Å超低噪声探针晶圆表面检测设备
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薄膜厚度/台阶高度测量0.1Å超低噪声探针晶圆表面检测设备


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Step Guage
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产品应用:

薄膜厚度/台阶高度测量。

产品特性:

●0.1Å超低噪声探针、非接触式白光干涉技术。

产品规格:

●Tencor Step Guage 。

产品展示图:

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