全自动厚度测量仪

产品概述：

全自动厚度测量仪是一种集成了精密机械、光学传感、自动控制和图像处理技术的高科技计量设备。它旨在完全替代传统手动测量方式，自动完成对各类材料、工件厚度的快速、精准、非接触（或接触式）测量，并实现数据的自动记录、分析和统计过程控制（SPC），大幅提升检测效率与可靠性，是现代化品质控制（QC）和质量保证（QA）的核心设备。

产品应用：

●应用于半导体制造过程中的多个关键环节，确保晶圆（Wafer）或薄膜的厚度符合工艺要求。

产品特性：

●快速测量

●多种尺寸载体测量

●数据记录与共享（通讯）

●指定点测量（手动）