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产品概述技术参数行业知识
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产品介绍：
测量上部颗粒和掩膜孔的过蚀刻和未蚀刻、焊接区高度以及审查和修复颗粒缺陷的设备
用途/用法：
专用于掩膜工艺的光学系统的应用
产品特点：
自动对焦响应应用3D传感器进行翘曲测量
应用空气修复功能去除表面异物
应用领域：
AMOLED、TFT-LCD、彩色滤光片
